Izdelki za astrografsko oprema za mreže (1)

NTEGRA je večfunkcijska naprava za izvajanje najtipičnejših nalog na področju mikroskopije s skeniranjem s sondami. Naprava je sposobna izvajati več kot 40 merilnih metod, kar omogoča analizo fizičnih in kemijskih lastnosti površine z visoko natančnostjo in ločljivostjo. Možno je izvajati eksperimente v zraku, pa tudi v tekočinah in v nadzorovanem okolju. Elektronika nove generacije omogoča delovanje v visokofrekvenčnih (do 5 MHz) načinih. Ta funkcija se izkaže za ključno pri delu z visokofrekvenčnimi AFM načini in pri uporabi visokofrekvenčnih kantileverjev.* V NTEGRA so implementirani različni tipi skeniranja: skeniranje po vzorcu, skeniranje po sondi in dvojno skeniranje. Zaradi tega je sistem idealen za raziskovanje majhnih vzorcev z ultravisoko ločljivostjo (atomsko-molekularna raven) ter za velike vzorce in skeniranje v razponu do 100x100x10 µm. XY pozicioniranje vzorca: 5x5 mm Ločljivost pozicioniranja: berljiva ločljivost - 5 µm, občutljivost - 2 µm